详细信息
本系统用于依据IEC 62215第三部分，测量集成电路对脉冲群信号的敏感度，系统由脉冲群信号发生器、注入探头和IC测试板等三部分组成：
集成电路电磁兼容测试标准，主要有电磁发射测试标准IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）、电磁抗扰度标准IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试）以及脉冲抗扰度标准IEC 62215。其中，IEC 62215标准，包括以下三部分：
第一部分：通用条件和定义；
第二部分：传导抗扰度测量方法——同步脉冲注入法 ；
第三部分：传导抗扰度测量方法——随机脉冲注入法参考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。
本系统用于依据IEC 62215第三部分，测量集成电路对脉冲群信号的敏感度，测试方法为：由脉冲群信号发生器产生脉冲信号，使用脉冲群注入探头，向集成电路的电源引脚或者信号引脚注入脉冲群信号，检查集成电路的抗干扰性能。
典型配置：
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序号
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型号
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说明
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数量
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1.1
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BPS 201
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脉冲群信号发生器
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1
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1.2
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Probe 201
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脉冲群电流注入探头，电压范围5-35V
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1
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1.3
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Probe 211
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脉冲群电流注入探头，电压范围0.5-5V
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1
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1.4
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Probe 301
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脉冲群电压注入探头，电压范围140-500V
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1
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1.5
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Probe 311
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脉冲群电压注入探头，电压范围5-140V
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1
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1.6
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GND 22
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针对不同尺寸集成电路适配器的接地平面
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1
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1.7
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CB 01
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连接板
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1
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1.8
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CU 10
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控制单元，控制电平的高（H）和低（L）
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1
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1.9
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OA 4005
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4通道示波器适配器
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1
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1.10
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Accessories
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电缆等附件
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1
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一、BPS201脉冲群信号发生器
主要技术指标：
脉冲群信号重复频率：0.1 Hz - 20 kHz
脉冲群电压：取决于所连接的注入探头
极性：正、负或者交替
二、注入探头
注入探头，把BPS201产生的信号进行放大后，注入到集成电路的引脚上。
可选4个脉冲群注入探头，分别为：
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探头
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Probe 201
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Probe 211
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Probe 301
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Probe 301
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脉冲电压
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5-35V
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0.5V-5V
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140V-500V
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5V-140V
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脉冲形状
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1.5/5ns
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1.5/5ns
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1.5/20ns
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1.5/20ns
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耦合电容
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1.2μF
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1.2μF
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18pF
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18pF
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内部电阻/电感
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约1?/2nH
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约1?/2nH
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约100?/50nH
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约100?/50nH
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典型应用
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连到低阻抗结构的IC引脚，包括Vdd, Vss,信号引脚
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连到高阻抗结构的IC引脚，包括信号引脚
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三、IC测试板，包括接地平面及IC适配器等
IC测试板，由接地平面、IC适配器、连接板等组成：
· 接地平面：大块连续镀金的地平面是电磁兼容测试中确保EUT（芯片）和探头保持良好连接的先决条件。
· IC适配器：连接EUT的小电路板。它插在地平面上并包含必需的滤波器。在测试期间它确保可靠的地平面并限制EUT的电源。
· 连接板：连接电路板，在芯片适配器和外部连接器之间。它控制LED的显示。
其中，接地平面GND，可选：
GND20-01：针对集成电路适配器（22.7 x 22.7mm）的接地平面
GND20-02：针对集成电路适配器（32.7 x 32.7mm）的接地平面
GND20-03：针对集成电路适配器（68.1 x 22.7mm）的接地平面
GND22-04：针对集成电路适配器（100 x 100 mm）的接地平面（符合IEC61967-2标准）
IC适配器卡，用于放置被测IC，滤波器以及连接线。对于一个IC的测试，可能需要具有不同滤波参数的多个适配器卡。用于电源的滤波器，一般放在连接板上。
IC适配器卡可以由LANGER公司提供，客户也可以在LANGER公司的协助下自己做IC适配器卡。
四、测试附件
·CU10控制单元
·OA 4005：四通道示波适配器
·TH 21探头支架